総説・解説記事- 虻川 匡司 -
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件数:18件
[2015]
1.ストリーク法を利用した時間分解反射高速電子回折法.[顕微鏡,50(3), (2015), 170-172]虻川匡司
2.日本における超高速電子顕微鏡開発の現状 ストリーク法を利用した時間分解反射高速電子回折法.[顕微鏡,50(3), (2015), 170‐172-]虻川匡司
[2012]
3.Secondary Electrons Still Hold Crystal Information in the Form of a Negative Replica of Photoelectron Diffraction.[JPSJ Online―News and Comments [January 6, 2012], (2012)]T. Abukawa
4.Secondary Electrons Still Hold Crystal Information in the Form of a Negative Replica of Photoelectron Diffraction.[JPSJ Online―News and Comments [January 6, 2012], (2012)]T. Abukawa
[2011]
5.地域と世界に貢献する東北大学多元物質科学研究所 表面物理計測の進展と機能性薄膜創製への展開.[Mater Integr,24(4/5), (2011), 147-154]高桑雄二, 虻川匡司, 小川修一
[2007]
6.電子回折による波数空間測定.[表面科学,28(6), (2007), 333-336]虻川匡司
10.1380/jsssj.28.333
7.電子回折による波数空間測定.[表面科学,28(6), (2007), 333-336]虻川匡司
[2003]
8.Structural analysis of thiophene chemisorped Si(001)-(2x1) surface.[Photon Factory Activity Report 2002,20, (2003), 53]M. Shimomura, Y. Ikejima, K. Yajima, T. Yagi, T. Goto, T. Abukawa, R. Gunnella, Y. Fukuda, S. Kono
9.Semi-direct method for surface structure analysis using correlated thermal diffuse scattering.[Progress in Surface Science,72, (2003), 19-51]Tadashi Abukawa,Shozo Kono
[2001]
10.熱散漫散乱電子による直接的な表面構造解析.[表面科学,22(12), (2001), 781-788]虻川 匡司, 河野 省三
11.熱散漫散乱を用いた表面構造解析.[固体物理,36(9), (2001), 571-578]虻川 匡司
12.熱散漫散乱電子による直接的な表面構造解析.[表面科学,22, (2001), 781-788]虻川匡司,河野省三
13.熱散漫散乱を用いた表面構造解析.[固体物理,36, (2001), 571-578]虻川匡司
14.熱散漫散乱を用いた表面構造解析.[固体物理,36, (2001), 571-578]虻川匡司
[1999]
15.スェーデンMAX放射光施設を使用して.[放射光,12(5), (1999), 411-412]虻川匡司
16.熱散漫散乱パターソン解析による表面構造の研究.[表面科学,20(8), (1999), 535-542]虻川 匡司, Wei Ching-Ming, 花野 太一, 河野 省三
10.1380/jsssj.20.535
[1996]
17.光電子分光 固体表面の電子状態を探る.[光アライアンス,7(6), (1996), 39-42]虻川匡司
[1995]
18.アルカリ金属吸着Si(001)2×1表面の電子状態.[放射光,8(1), (1995), 80-97]虻川 匡司, 河野 省三
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