著書論文等- 黒田 理人 -
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件数:340件
[2018]
41.[] 高紫外光感度・高飽和CMOSイメージセンサを用いたサブppmオーダのオゾン水対流のイメージング.[映像情報メディア学会技術報告,42(19(IST2018 31-42)), (2018), 13‐16-16]村田真麻, 藤原康行, 青柳雄介, 黒田理人, 須川成利
42.[] A High Sensitivity and Compact Real Time Gas Concentration Sensor for Semiconductor and Electronic Device Manufacturing Process.[233rd ECS Meeting Abstracts,MA2018-01,(2018),2416]Hidekazu Ishii, Masaaki Nagase, Nobukazu Ikeda, Yoshinobu Shiba, Yasuyuki Shirai, Rihito Kuroda, Shigetoshi Sugawa
43.[] Solid State Devices and Materials FOREWORD.[JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS,57(4),(2018)]Kageshima Hiroyuki, Hosoi Takuji, Iwamoto Satoshi, Arie Takayuki, Fujino Masahisa, Fukuzaki Yuzo, Harada Syunta, Ikegami Masashi, Iwamuro Noriyuki, Johguchi Koh, Kakushima Kuniyuki, Kanaya Haruichi, Kikuchi Akihiko, Kinoshita Kentaro, Kuroda Rihito, Kurokawa Yasuyoshi, Maehashi Kenzo, Maekawa Keiichi, Makino Toshiharu, Matsushima Toshinori, Miyata Toshitaka, Morioka Hiroshi, Morioka Hiroshi, Murugesan Mariappan, Nagashio Kosuke, Nagata Takahiro, Nakatsuka Osamu, Nishiyama Nobuhiko, Oiwa Akira, Okada Hiroyuki, Ono Teruo, Sakamoto Toshitsugu, Sakata Toshiya, Shirao Mizuki, Sukegawa Kazuo, Suzuki Toshikazu, Suzuki Hidetoshi, Taima Tetsuya, Tanaka Tetsu, Tatsuoka Kohichi, Tawara Takehiko, Tsuda Kunio, Yamamoto Kazuhiko
10.7567/JJAP.57.04F001
http://gateway.isiknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?&GWVersion=2&SrcAuth=TohokuUniv&SrcApp=TohokuUniv&DestLinkType=FullRecord&KeyUT=WOS:000430981800001&DestApp=WOS
44.[] Experimental investigation of localized stress-induced leakage current distribution in gate dielectrics using array test circuit.[Japanese Journal of Applied Physics,57(4S),(2018),04FE11-1-04FE11-5]Hyeonwoo Park, Akinobu Teramoto, Rihito Kuroda, Tomoyuki Suwa and Shigetoshi Sugawa
10.7567/JJAP.57.04FE11
http://gateway.isiknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?&GWVersion=2&SrcAuth=TohokuUniv&SrcApp=TohokuUniv&DestLinkType=FullRecord&KeyUT=WOS:000430981800061&DestApp=WOS
45.[] Effect of drain current on appearance probability and amplitude of random telegraph noise in low-noise CMOS image sensors.[Japanese Journal of Applied Physics,57(4S),(2018),04FF08-1-04FF08-6]Shinya Ichino, Takezo Mawaki, Akinobu Teramoto, Rihito Kuroda, Hyeonwoo Park, Shunichi Wakashima, Tetsuya Goto, Tomoyuki Suwa, Shigetoshi Sugawa
10.7567/JJAP.57.04FF08
http://gateway.isiknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?&GWVersion=2&SrcAuth=TohokuUniv&SrcApp=TohokuUniv&DestLinkType=FullRecord&KeyUT=WOS:000430981800075&DestApp=WOS
46.[] 最高撮像速度5000万コマ/秒を有するプロトタイプグローバルシャッタ高速CMOSイメージセンサ.[映像情報メディア学会技術報告,42(10(IST2018 11-25)), (2018), 39‐42-42]鈴木学, 鈴木将, 黒田理人, 須川成利
47.[] High-speed multi-bandpass liquid-crystal filter using dual-frequency liquid crystal for real-time spectral imaging system.[International Display Workshops,(2018),10555-29]Takahiro Ishinabe, Kohei Terashima, Kazuhiro Wako, Yasuyuki Fujihara, Yusuke Aoyagi, Maasa Murata, Satoshi Nasuno, Shunichi Wakashima, Rihito Kuroda, Yosei Shibata, Shigetoshi Sugawa, Hideo Fujikake
48.[] A Preliminary Chip Evaluation toward Over 50Mfps Burst Global Shutter Stacked CMOS Image Sensor.[IS&T International Symposium on Electronic Imaging, Image Sensors and Imaging Systems 2018,(2018),398-1-398-4]Manabu Suzuki, Masashi Suzuki, Rihito Kuroda, Shigetoshi Sugawa
10.2352/ISSN.2470-1173.2018.11.IMSE-398
[2017]
49.[] Narrow-Bandpass Liquid Crystal Filter for Real-Time Multi Spectral Imaging Systems.[International Display Workshops,(2017),259-261]Kohei Terashima, Takahiro Ishinabe, Kazuo Wako, Yasuyuki Fujihara, Yusuke Aoyagi, Maasa Murata, Satoshi Nasuno, Shunichi Wakashima, Rihito Kuroda, Yosei Shibata, Shigetoshi Sugawa, Hideo Fujikake
50.[] 三次元積層を用いた先進CMOSイメージセンサ技術―イメージセンサ技術のさらなる進化―.[日本工業出版, 光アライアンス 特集:生体イメージングを推める光デバイス,28(1), (2017), 12-16]黒田 理人
51.[] 三次元積層を用いた先進CMOSイメージセンサ技術 : イメージング技術のさらなる進化 (特集 生体イメージングを推める光デバイス).[光アライアンス,28(12), (2017), 12-16]黒田 理人
52.[] 生体イメージングを推める光デバイス 三次元積層を用いた先進CMOSイメージセンサ技術=イメージング技術のさらなる進化=.[光アライアンス,28(12), (2017), 12‐16-]黒田理人
53.[] リアルタイム分光イメージングシステム用の高速ナローバンドパス液晶フィルタ.[Optics & Photonics Japan講演予稿集(CD-ROM),2017, (2017), ROMBUNNO.1aC6-]寺島康平, 石鍋隆宏, 若生一広, 藤原康行, 青柳雄介, 村田真麻, 那須野悟史, 若嶋駿一, 黒田理人, 柴田陽生, 須川成利, 藤掛英夫
54.[] 高精度アレイテスト回路計測技術を用いたソースフォロアトランジスタの動作条件変化によるランダムテレグラフノイズの挙動解析.[電子情報通信学会技術研究報告,117(260(SDM2017 50-60)), (2017), 57‐62-]市野真也, 間脇武蔵, 寺本章伸, 黒田理人, 若嶋駿一, 須川成利, 須川成利
55.[] 紫外吸光とチャージアンプ回路を用いた高感度・小型リアルタイムガス濃度計.[電子情報通信学会技術研究報告,117(260(SDM2017 50-60)), (2017), 35‐38-]石井秀和, 永瀬正明, 池田信一, 志波良信, 白井泰雪, 黒田理人, 須川成利, 須川成利
56.[] Experimental Investigation of Localized Stress Induced Leakage Current Distribution and Its Decrease by Atomically Flattening Process (シリコン材料・デバイス).[電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報,117(260), (2017), 9-14]朴 賢雨, 黒田 理人, 後藤 哲也, 諏訪 智之, 寺本 章伸, 木本 大幾, 須川 成利
57.[] 高精度アレイテスト回路計測技術を用いたソースフォロアトランジスタの動作条件変化によるランダムテレグラフノイズの挙動解析 (シリコン材料・デバイス).[電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報,117(260), (2017), 57-62]市野 真也, 間脇 武蔵, 寺本 章伸, 黒田 理人, 若嶋 駿一, 須川 成利
58.[] 紫外吸光とチャージアンプ回路を用いた高感度・小型リアルタイムガス濃度計 (シリコン材料・デバイス).[電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報,117(260), (2017), 35-38]石井 秀和, 永瀬 正明, 池田 信一, 志波 良信, 白井 泰雪, 黒田 理人, 須川 成利
59.[] Rihito Kuroda and Shigetoshi Sugawa.[Springer International Publishing,(2017)]Kinko Tsuji, Werner Lauterborn, Thomas Kurz, Guillaume Lajoinie, Nico de Jong, Michel Versluis,Takeharu G. Etoh, Quang A. Nguyen, Rihito Kuroda, and Shigetoshi Sugawa, Harald Kleine, Kazuyoshi Takayama, François Hild, Amine Bouterf, Pascal Forquin, Stéphane Roux, Christian Freitag, Thomas Arnold, Meiko Boley, Sebastian Faas, Florian Fetzer, Christian Hagenlocher, Andreas Heider, Michael Jarwitz, Rudolf Weber, Thomas Graf, Alexander Rack, Margie Olbinado, Mario Scheel, Benjamin Jodar, John Morse, Marcus Aldén, Mattias Richter, Nobuyuki Kawahara, Alexander Stolz, Malte von Ramin, Daniel Schmitt, Hartmut Hieronymus, Kenneth R, Langley, Er Q. Li, Sigurdur T. Thoroddsen, Stefan C. Müller, Valeria Garbin
ISBN978-3-319-61491-5
60.[] Hole-Trapping Process at Al2O3/GaN Interface Formed by Atomic Layer Deposition.[IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS,38(9),(2017),1309-1312]Akinobu Teramoto, Masaya Saito, Tomoyuki Suwa, Tetsuo Narita, Rihito Kuroda, Shigetoshi Sugawa
10.1109/LED.2017.2734914
http://gateway.isiknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?&GWVersion=2&SrcAuth=TohokuUniv&SrcApp=TohokuUniv&DestLinkType=FullRecord&KeyUT=WOS:000408355200031&DestApp=WOS http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=85028926066&partnerID=40
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