Review Papers- CHO Yasuo -
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[2018]
1.走査型プローブ顕微鏡(非線形誘電率顕微鏡)を用いたデバイス観察.[公益社団法人日本表面科学会 Vacuum and Surface Science,61(4), (2018), 221-226]Yasuo CHO
10.1380/vss61.221
[2017]
2.走査型非線形誘電率顕微鏡(SNDM)の紹介と電子デバイス・材料評価への応用.[電気学会誌,137(10), (2017), 697-700]山末 耕平, 茅根 慎通,長 康雄
10.1541/ieejjournal.137.697
3.SNDM強誘電体プローブメモリ.[The Magnetics Society of Japan Magnetics Jpn.,12(3), (2017), 109-114]長 康雄
[2016]
4.走査型非線形誘電率顕微鏡(SNDM)による半導体微細構造の高分解能評価.[応用物理学会 応用物理,85(7), (2016), 560-567]長 康雄
[2015]
5.走査型非線形誘電率顕微鏡法(SNDM)-次世代パワーデバイス(SiC, GaN& Si系パワーデバイス及び太陽電池,etc.)評価用最強ツールとして-”.[ナノエレクトロニクス計測分析技術研究会 分析サロン,7, (2015), 1-6]長康雄
[2005]
6.非線形誘電率顕微鏡を用いた超高密度強誘電体記録.[日本表面科学会 表面科学,26(4), (2005), 220-225]長 康雄
7.非線形誘電率顕微鏡.[日本顕微鏡学会 顕微鏡,40(1), (2005), 33-36]長 康雄
[2003]
8.強誘電ナノ・ドメイン・エンジニアリング.[シーエムシー出版 機能材料,23(10), (2003), 46-54]北村健二,寺部一弥,長 康雄
9.非線形誘電率顕微鏡の開発と電子材料への展開.[日本セラミックス協会 セラミックス,38(10), (2003), 786-790]長 康雄
[2002]
10.非線形誘電率顕微鏡を用いたドメイン構造観察.[シーエムシー出版 機能材料,22(12), (2002), 12-17]長 康雄
11.Observation of Ferroelectric Nano-domains Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy.[The Japan Institute of Metals(JIM) Materia,41(12), (2002), 852-853]Yasuo Cho
12.超高分解能走査型非線形誘電率顕微鏡.[応用物理学会 応用物理,71(1), (2002), 62-65]長 康雄
[2000]
13.走査型非線形誘電率顕微鏡-圧電デバイスをミクロに探る.[日本音響学会 日本音響学会誌,56(10), (2000), 721-726]長 康雄
[1998]
14.走査型非線形誘電率顕微鏡.[応用物理学会 応用物理,67(3), (1998), 327-331]長 康雄
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